HAST試驗箱試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗，廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。
下面讓我們來了解一下Hast試驗箱與通常的環(huán)境試驗的差異有哪些吧。
1、HAST實驗中的低溫、高溫應力實驗在實驗前不能斷定樣品的實驗低、最高溫度，實驗意圖是找出樣品的低溫、高溫操作及損壞極限。
2、通常環(huán)境實驗的低溫、高溫實驗，在實驗前知曉實驗的低、最高溫度，實驗意圖是承認樣品在已知的低、最高溫下是否能正常作業(yè)。
3、HAST實驗中的疾速溫變循環(huán)的溫變速率可到達每分鐘60℃，需要選用液氮制冷的辦法，溫變速率比通常環(huán)境實驗中的高低溫循環(huán)快許多。
4、HAST實驗中的振蕩應力為六自由度的振蕩實驗，選用氣動振蕩臺，頻率規(guī)模為2Hz~10000Hz，實驗室常用的電動振蕩臺和液壓振蕩臺通常都為單自由度振蕩，如今現(xiàn)已盡管也有三軸六自由度的電動振蕩臺，可是它的頻率上限通常只能到2000Hz。
5、HAST實驗的溫度與振蕩歸納應力可認為六自由度振蕩和疾速溫變的歸納，這也是用電動和液壓振蕩臺做歸納實驗所達不到的。
6、HAST實驗在國外的電子產(chǎn)品設計中已被廣泛運用，跟著技能的開展，國內(nèi)對于此實驗的需要也在漸漸擴展，鑒于此實驗辦法的*性，信任HALT實驗辦法在產(chǎn)品尤其是電子產(chǎn)品的研制期間會被廣泛選用。
以上就是HAST試驗箱與通常環(huán)境試驗的區(qū)別，希望以上的內(nèi)容能夠?qū)Υ蠹矣兴鶐椭?，感謝您的觀看和支持，后期會整理更多資訊給大家，敬請關(guān)注我們的網(wǎng)站更新。
