簡要描述:日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試是一種信賴性試驗設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
---|---|---|---|
加工定制 | 是 | 使用電源 | AC100V 50/60Hz |
計測Channel數(shù) | 10CH | 計測電阻值范圍 | 2kΩ~10TΩ |
制御Channel數(shù) | 5~100CH(5Channel單位) | 主PC通信機能 | LAN接觸口×1 |
環(huán)境試驗機通信機能 | RS-232C接觸口×2 | 自動校正 | bias輸出補正,異常leak電流檢測 |
計測線 | TRIAXIAL線 (耐熱溫度:200度) |
日本J-RAS離子遷移測試裝置
追求高性能、高信賴性、高便利性的系統(tǒng)構(gòu)成。
ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng),并且重要的試驗數(shù)據(jù)被保存到CF存儲卡。
作為系統(tǒng)構(gòu)成我們準備了40CH/100CH型,可以根據(jù)您的預(yù)算、設(shè)置空間來進行選擇。
高機能
*用PC設(shè)定試驗條件之后,就可以不使用PC來繼續(xù)進行試驗。
*使用ECM-100主機就可對HAST/試驗槽進行自動控制,試驗狀況可以用ECM-100進行變更/監(jiān)視。
*HAST/試驗槽的開門功能等的聯(lián)動裝置功能也是標準裝備的
*沒有通信機能的HAST/試驗槽,也可以通過模擬輸入來監(jiān)視濕度
產(chǎn)品優(yōu)勢
簡單/便利
△采用高性能驅(qū)動計測,測試時焊接工序大幅減少。
△軟件設(shè)計簡單明了,能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報告相關(guān)的報表功能。
△測試中,設(shè)備可以單獨運行,電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機能
△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路,可以做到16ms的計測間隔。
→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高,對產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準。
△一臺電腦最大可以增設(shè)400通道。
△每個通道可以設(shè)定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡潔
△具有自身診斷機能,把異常計測防范于未然。
△配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。
△每個單元獨立,其中一個單元損壞,可以單獨拆卸維修,而不影響其他通道使用。
△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置,可以在多領(lǐng)域利用。
實例
△測試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進行測試。
△16msec的高速抽樣處理,不會漏掉任何一個數(shù)據(jù)。
△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。
計測Channel數(shù) | 10CH | ||
計測電阻值范圍 | 2kΩ~10TΩ | ||
DCbias印加 | 電壓范圍 | 2范圍 (1.0~30.0V,30.1~300.0V) | |
電壓范圍設(shè)定 | 1組(5CH) | ||
電壓級別設(shè)定 | Channel個別 | ||
設(shè)定分解能 | 0.1V | ||
設(shè)定精度 | ±{0.3%(F.S.)+0.5}V | ||
最大輸出電流 | 700μA/CH | ||
DCbias計測 | 計測范圍 | 2范圍 (0~33V,0~330V) | |
計測精度 | ±{0.3%(F.S.)+0.5}V | ||
計測分解能 | 0.1V~(整數(shù)+小數(shù)點以下1行表示) | ||
AD轉(zhuǎn)換器 | 24bits⊿∑AD轉(zhuǎn)換器/CH | ||
計測速度 | 16msec/10CH | ||
電流計測 | 計測方式 | CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式 | |
計測范圍 | 5范圍(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA) | ||
計測范圍設(shè)定 | CHANNEL個別或者自動范圍 | ||
計測精度 | ±0.3%(F.S.) | ||
計測分解能 | 1pA~(有效數(shù)字4行表示) | ||
AD轉(zhuǎn)換器 | 24bits⊿∑AD轉(zhuǎn)換器/CH | ||
計測速度 | 16msec/100CH | ||
制御Channel數(shù) | 5~100CH(5Channel單位) | ||
數(shù)據(jù)收錄 | 試驗制御單位 | 1組(5CH) | |
試驗設(shè)定小時 | 1分~9999小時 | ||
收錄間隔(定期) | 1分~60分 | ||
收錄間隔(ECM發(fā)生時) | 16msec | ||
收錄媒體 | Compact flashcard | ||
其他 | 主PC通信機能 | LAN接觸口×1 | |
環(huán)境試驗機通信機能 | RS-232C接觸口×2 | ||
外部輸入1 | 接點輸入×4(聯(lián)動裝置,緊急停止制御可) | ||
外部輸入2 | 電壓輸入(1-5V)×2,電流輸入(4-20mA)×2(溫度·溫度記錄可) | ||
自動校正 | bias輸出補正,異常leak電流檢測 |